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走査プローブ顕微鏡コミュのSPMのJIS規格

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ちょっと古い(半年前)ですが、SPMもJIS規格が制定されていますので、情報提供いたします。現在のところ、これだけです。

規格番号 JISR1683
規格名称 原子間力顕微鏡によるファインセラミックス薄膜の表面粗さ測定方法
英文名称 Test method for surface roughness of ceramic thin films by atomic force microscopy
制定年月日 2007/11/20

実は、この規格の会合の最後の会に呼ばれて出席しました。最後の会合だから、内容の確認だけで、私の意見が入る余地は無かったのですが。

いまは、ISOへ提案をしているはずです。9月にISOの会議がスイスでありますが、各国の利害がからむのですんなり採択されるかどうかはわかりません。

コメント(1)

その後ISO規格はどうなったのか ご存知の方いらっしいますか?

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