長岡技大　機械系木村研　OBコミュの工藤君受賞式

IEEE Reliability Society Japan Chapter Awards 授賞式

●日時:
6月20日 (土) 14:00～16:30

●会場：
日本大学経済学部 7号館13階会議室3　（JR水道橋駅　徒歩1分）
(http://www.eco.nihon-u.ac.jp/accessmap/)

●プログラム

14:00-14:15 Chair挨拶および2008 Chapter Awards 授賞式

14:15-14:45 Safety Achieved by the Safe Failure Fraction (SFF) in IEC61508

Itaru Yoshimura and Yoshinobu Sato (Tokyo University of Marine Science and
Technology)

(2008年度IEEE Reliability Society Japan Chapter論文賞)

14:45-15:15 光結合フェールセーフ論理回路を用いた安全デバイスの提案

工藤大地 ((株)日本信号) (2008年度IEEE Reliability Society Japan Chapter学術奨励賞)

15:15-15:25 休憩

15:25-15:55 空港における保安技術の研究開発動向－核四重極共鳴を用いた爆薬検知－

近内亜紀子 (海上技術安全研究所) (2008年度IEEE Reliability Society Japan
Chapter学術奨励賞)

15:55-16:25 3パラメータワイブル分布, 3パラメータガンマ分布における一致推定量の構成

長塚豪己 (首都大学東京) (2008年度IEEE Reliability Society Japan Chapter学術奨励賞)

16:25-16:30 閉会挨拶