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ナノ粒子コミュのデバイシェラーリング

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デバイシェラーリング

mixiユーザー 2007年02月26日 23:54

制限視野電子線回折像を解析してて思ったことがあります。
まぁ、格子像を高倍で撮影して、フーリエ変換して回折スポットみたりごまかしながら、研究していたんですけど…。

半年くらい前に撮影したSAEDを「くまさん」のソフトで解析していたら、なんと目的の物質らしき面間隔だったんですよ！！
混晶体なので、回折ピークがシフトしました！！
気づくのが遅くて、もったいなきもちです。
これから、サンプル数重ねて再現しようと思います。

みなさんも、使ってみてください。
http://www.vector.co.jp/soft/win95/edu/se325285.html?site=n

ちなみに、私の感想はdpiとは別に任意に倍率を変えれるようにしてほしいことです。

コメント(3)

[1] mixiユーザー 03月15日 01:41

良かったですね。
僕も「くまさん」のソフト愛用してます。

コミュニティのED像変えられましたね（笑）

[2] mixiユーザー 03月16日 18:42

> なおかげさん
新しいスキャナーを使ってEDをとってみました。
実は同じED写真なんですよ。
ちなみに、校正用のAu蒸着膜のEDです。

[3] mixiユーザー 03月17日 00:20

そうなんですか！
同じED写真とは思えないほど鮮明なfccリングが見えてますね。

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